【推荐】高效的一站式测控系统——NI工业自动化平台
时间：2010/01/28 14:00 -17:00地点：北京丽亭华苑酒店3楼金辉厅(海淀区知春路25号)
主办公司：美国国家仪器NI
竞争的日益激烈，促使用户迫切希望优化现有系统性能。纳秒级的响应速度、无线测量、高精度的同步、便捷的网络数据发布功能……您是否也想将这些最新技术纳入您的工业自动化系统中呢？
本次研讨会为您带来NI高性能自动化解决方案。NI工业自动化平台以LabVIEW图形化开发软件为核心，不仅能够快速集成您现有的自动化硬件，如PLC和各种现场设备，同时也将最新科技带入了自动化领域。采用先进FPGA技术的PAC(可编程自动化控制器)增强了系统的测控性能；无线传感器网络(WSN)为工业监测插上无线的翅膀；智能相机为工业视觉应用提供了便捷的服务。此外，NI的工业平台中还可以轻松集成运动控制、网络数据库、远程访问等功能，满足您个性化的系统应用需求。
本次研讨会为以下工程师精心设计：
控制工程师，自动化工程师，机械工程师及工业自动化领域系统开发人员
研讨会议程/ 您将通过本次研讨会了解到：
1．新需求、新技术
2．基于LabVIEW的NI 工业自动化平台概述
3．PAC-可编程自动化控制器增强自动化测控性能
提升现场分布式监测性能
实现快速分析与决策
4．构建完整的工业自动化系统
连接现有硬件设备
机器视觉与运动控制
数据监控与远程发布
5．用户案例分析
6．提问与答疑
涉及的产品/应用/演示包括：
LabVIEW，LabVIEW DSC，NI OPC Server，Industrial Communication Bus
CompactRIO，CompactFieldpoint，PXI，Touch Panel
CompactRIO Scan Mode演示
用户案例介绍：
钢铁冶金，轨道控制，汽车工业等行业对于高性能测量与控制的应用
WSN相关案例，
涉及的产品/应用/演示包括：
LabVIEW，LabVIEW DSC，NI OPC Server，Industrial Communication Bus
CompactRIO，CompactFieldpoint，PXI，Touch Panel
CompactRIO Scan Mode演示
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