gkd_0000 发表于 2008-6-29 00:59:04

小弟要搭一个物性测试平台,请各位达人指点一条效率最高的途径

如题我要测的是半导体样品(3*3*40 mm)在变温条件下的电阻率和热电势系数(这是热电材料两项基本参数),测试平台的示意图在附件中(图中除数据采集器、labview等外都处于程序控温的管式炉中,管式炉部分我打算买现成的然后改造),执行功能意图描述如下:

(1)电阻率的测量
原理:采用四探针法
输入恒流 I
输出电压V3

(2)热电势的测量
原理: 是通过一个加热元加热样品一端,在样品中造成长度方向的温度梯度,由于温差电效应,在样品长度方向会产生温差电动势,即热电势率=单位长度的热电动势/单位长度的温度差,
输出:V1(转换成温度T1)V2(转换成温度T2)V3(样品上两点间的热电势)

(3)加热源的温度控制 (加热源也带有测温热电偶,图中没有画出)
意图: 电源+加热元+热电偶+信号采集器+labview 构成PID控制回路使加热源的温度到达设定温度

很外行,所以可能表述的不是很清楚。小弟是学材料的,初次涉及搭建仪器,也不懂Labview,所以很有难度和挑战性,(因为时间比较紧)。整套装置对我来说非常复杂,最有效的办法是交给专业人士去做,但是那样的的话就失去了一次非常好的学习机会。希望各位达人指点一条效率最高同时又能学到东西的捷径。比如说哪些部分可以买现成的,哪些部分是关键并且需要耗费时间的。。。

先谢谢大家了

深夜独守实验室,导师知道了不得感动的痛苦,可惜他不会知道的。。。

gkd_0000 发表于 2008-6-29 01:01:41

cpubbs 大哥帮帮我。。。

cpubbs 发表于 2008-6-29 09:01:25

如果温度这一块有现成的话,它应该有读取当前温度和控制温度的接口,比如COM口或USB口,只要发它的协议的指令,就很容易的!

至于采集这部分,也是挺简单的,一般厂商的采集卡均有提供相应的VI可以用的,直接就能采集回来相应的电压部分的!多通道控制在采集卡中很容易实现的,也只要输入一个号码即可,呵呵!

gkd_0000 发表于 2008-6-29 14:56:02

谢谢版主,您真是个热心人,如果到时碰到麻烦的话,能否聘你做我们的技术支持?我给你发邮件吧。

加热元温度控制这块我原想买个现成的 PID 温度控制器,这样会省却很多麻烦,只是显得有点傻,呵呵。还是抓紧时间,还有很多事情要做呢。
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