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关于探测缺陷数目的问题

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发表于 2008-10-29 21:27:19 | 显示全部楼层 |阅读模式
想要探测如图所示的缺陷数目,无缺陷的地方是黑的,有缺陷的地方是白的,缺陷大小不等,形状不一,一旦有白色的像素点连在一起就认为是一个缺陷,请问要用什么算法?小女子一点头绪没有,如果有参考的例子感激不尽

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 楼主| 发表于 2008-11-2 15:47:15 | 显示全部楼层
真切的希望各位大侠给点意见,小女子很着急,初学不是很懂,愿意认真学习
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发表于 2008-11-6 09:04:34 | 显示全部楼层
有个笨方法,先选取小块的白色区域(尽量小一些)作为ROI,用Match在整幅图中搜索是否有类似特征的区域,搜到了说明有缺陷。
应该有算法直接分析的,可是我暂时还不知道。
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