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中国更需要高精度的薄膜量测

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发表于 2006-4-22 18:30:21 | 显示全部楼层 |阅读模式
在OLED, LCD, 半导体行业和光电行业等行业中,薄膜测量是检验产品质量的高科技手段之一。据我了解美国SCI 公司最新开发并研究出了世界顶级高精度薄膜光学测量仪器FilmTek系列产品。它的主要性能简单的说就是可测参数比一般薄膜量测多,并且安全可*,容易装配,在现有的设备上可自由添加这种配置,方便更新。其中它得可测参数有:
1)单层或多层薄膜(可达50层),厚度 (<1 to 250 um)
2)反射率R和透射率T
3)折射率n和吸收系数k
4)能带间隙
5)表面粗糙度和损伤度
6)成份和结晶程度
这种功能测试可谓是未来发展OLED的奠基石,中国怎可以连奠基石都输于别国呢?
欲知详情,请查看我的blog哦
我的blog:http://spaces.msn.com/shuggad/PersonalSpace.aspx?_c02_owner=1
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